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2012年10月23日，物理学院拟购的“大尺寸样品台原子力显微镜”购置论证会在物理楼中412会议室召开，会议由物理学院副院长龚旗煌教授主持，设备部设备管理办公室相关工作人员参加了会议。

原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。该仪器将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。原子力显微镜能准确评估材料表面形貌，而且能保证较快的反馈速度，是化学化工、材料科学、生命科学等学科研究领域的基础支撑设备。拟购的“大尺寸样品台原子力显微镜”具备大尺寸样品台，能直接测量直径为2-6英寸（直径）的较大样品的表面形貌信息，将解决申请人课题组所面临的瓶颈问题。校内具有同类设备，使用效率很高，机时饱和。专家组根据申请人开展III氮化物半导体材料外延生长和器件研制的需要，认为该仪器是对大尺寸样品进行快速和准确地表面形貌分析的关键设备之一，且设备购置经费已落实，运行经费有保障，一致同意通过“大尺寸样品台原子力显微镜”的可行性论证。设备购置后将在满足申请人课题组科研需要的同时对校内外开放使用。

“大尺寸样品台原子力显微镜”由物理学院沈波教授申请，经费来源为科研项目经费。可行性论证专家组由中科院半导体研究所卢励吾研究员、刘峰奇研究员，北京大学物理学院胡晓东教授、王新强研究员、于彤军副教授组成。