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2010年12月1日，信息学院拟购的“精密阻抗分析仪”、“矢量信号发生器”和“半导体参数分析仪”购置论证会在信息学院2713举行。设备部设备管理办公室相关工作人员参加了会议。

“精密阻抗分析仪”可用于元件和电路有效阻抗的测量和分析，“矢量信号发生器”可提供优异的基带信号，“半导体参数分析仪”由脉冲IV测试套件和CV测试模块组成，可同时测量I-V、C-V特性。三台设备配套使用可进行大量的器件特性测试分析建模工作。目前我校信息学院拥有多台同类设备，使用效率很高。专家组根据申请人开展纳米尺度器件和电路研究的需要，认为上述三台设备可在不进行封装的条件下对器件、电路的各方面性能进行快速准确的测试，且设备购置经费已落实，运行经费有保障，一致同意通过上述三台设备的可行性论证。设备购置后将在满足申请人课题组科研需要的同时对校内外开放使用。

三台设备的购置由信息学院蔡一茂副研究员申请，经费来源为国家科技重大专项。可行性论证专家组由信息学院傅云义教授，廖怀林教授，安霞副教授，王源副教授，许晓燕高级工程师组成。